电子技术杂志社

摘要：阐述一款SoC芯片在180nm工艺中的DRC验证流程和方法，探讨使用后端设计工具Innovus导出GDSII数据时MapFile文件的设置、DummyMetal的添加、GDSII数据的合并，最终通过Calibredrv打开GDSII数据，查看DRC结果，提出修复DRC错误的方法。

关键词： 集成电路设计;DRC验证;GDSII;Dummy;

专辑： 信息科技

专题： 无线电电子学

分类号： TN402

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