电子技术杂志社

摘要：阐述对透射电子显微镜的实际加速电压进行精准测量至关重要。使用赝波长法测定加速电压时，通过对比不同指数的菊池线获得的电压结果，发现高阶指数菊池线可以更准确的测量出透射电子显微镜的实际加速电压。通过提高菊池线指数，可以使加速电压的误差减小，为后续CBED实验中晶格常数的测量提供基础。

关键词： 赝波长法;透射电子显微镜(TEM);加速电压;误差分析;

基金资助： 国家自然科学基金（No.11874077）；

专辑： 信息科技

专题： 无线电电子学

分类号： TN16

在线公开时间： 2025-06-20 15:00（知网平台在线公开时间，不代表文献的发表时间）